半導體制造

 

　　Semiconductor Manufacturing

 

　　半導體短缺和半導體更小的工藝節(jié)點競爭。集成電路(IC)的短缺要求從制造過程中獲得更多的產(chǎn)出，因此行業(yè)領導者則在競爭更小的工藝節(jié)點。這些挑戰(zhàn)要求對空氣中的顆粒物污染進行監(jiān)測，以確保產(chǎn)品無風險，產(chǎn)量(產(chǎn)品良率)提升，順利通過潔凈審核。TSI通過我們的高靈敏度粒子計數(shù)器提供從納米粒子到亞微米粒子等完整的環(huán)境監(jiān)測解決方案，滿足半導體短缺和更小工藝節(jié)點的競爭需求。

 

　　

 

　　TSI 10 nm潔凈室凝聚核粒子計數(shù)器(CPC)和0.1 μm粒子計數(shù)器(手持式粒子計數(shù)器和遠程粒子計數(shù)器)是滿足半導體行業(yè)關鍵需求的最佳組合。

 

　　TSI 提供高靈敏度粒子計數(shù)器近60 余載，比任何其他粒子計數(shù)器公司歷史更悠久。TSI儀器被用于世界各地國家級標準實驗室，這些實驗室要求卓越的準確性、重復性和可靠性。 絕不妥協(xié)于任一制造過程——相信TSI會監(jiān)測到一切。

 

　　獨一無二的10nm測量

 

　　0.1 μm塵埃粒子計數(shù)器不能檢測納米級粒子污染物-你需要CPC(凝聚核粒子計數(shù)器)。利用我們在CPC技術上數(shù)十年的經(jīng)驗，TSI AeroTrak® 9001潔凈室凝聚核粒子計數(shù)器(CPC)是專為超潔凈半導體制造提供可靠的、實時的納米粒子檢測，0.1 CFM流量用于檢測空氣或惰性壓縮氣體中的顆粒。